Piattaforma integrata boundary scan e funzionale per il test di schede ad alta complessità
[ NI Engineering Impact Awards - Soluzioni e applicazioni 2015 ]
Data di pubblicazione: 26/08/2015
Un sistema modulare e scalabile di test integrato su piattaforma 6TL-08, basato su piattaforma NI PXI e XJTAG, in grado di testare quasi tutti i circuiti del DUT sia digitali, sia analogici e tutte le net. Il sistema, grazie all’interazione funzionale boundary, è in grado di creare condizioni di test altrimenti impossibili da avere, aumentando affidabilità ed efficacia del collaudo. La piattaforma consente anche elevate prestazioni di programmazione in-system.
Informazioni addizionali
Piattaforma integrata boundary scan e funzionale per il test di schede ad alta complessità
