Articoli pubblicati

Speciale test funzionale. Spingersi fino alle più alte prestazioni (PCB Magazine n. 2 marzo 2013)
La rivista PCB Magazine pubblica un articolo su IPSES e sulle soluzioni fornite per il test funzionale, descrivendo applicazioni e potenzialità delle piattaforme di test della spagnola 6TL, di cui IPSES è rappresentante esclusivo in Italia e Svizzera, sia per la vendita, sia per il supporto tecnico. IPSES configura e integra i banchi di test 6TL, occupandosi inoltre della progettazione della fixture custom e dello sviluppo della seguenza di test, fornendo così sistemi completi semplici da gestire, ma potenti nelle prestazioni e in grado di rispondere pienamente a tutte le esigenze del cliente.

Sistema di monitoraggio e caratterizzazione di apparati di generazione di tempo e frequenza basato su sbRIO e LabVIEW (Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi - soluzioni e applicazioni 2013)
Sistema embedded stand-alone per il monitoraggio e la caratterizzazione di sistemi di riferimento di tempo e di frequenza con una precisione inferiore a 10 ns, in grado di funzionare autonomamente per almeno tre mesi, mantenere traccia di tutte le misure effettuate e permetterne il completo monitoraggio e controllo da remotoa.

Sistema hardware e software di analisi mediante termoluminescenza basato su NI LabWindows/CVI (Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi - soluzioni e applicazioni 2013)
Sistema integrato hardware e software di datazione mediante analisi per termoluminescenza emessa da campioni opportunamente riscaldati.

Soluzione di test basata su boundary scan xJTAG per il test di board complesse ad alta densità (XJTAG website- case studies 2012)
XJTAG ha pubblicato il case study sull'applicazione che IPSES ha sviluppato per Linkra, utilizzando il boundary scan XJTAG per il test di board complesse con più di 20.000 punti di saldature e circa 5.500 net di connessione. L'impego del boundary scan XJTAG consente infatti di testare un altissimo numero di connessioni e componenti, inclusi dispositivi non JTAG, con un ridotto numero di connessioni fisiche verso la board. IPSES ha quindi sviluppato un'applicazione estremanete efficace contenendo costi e tempi di sviluppo. Il case study completo può essere letto o scaricato ai segueinti link qui (IPSES website) o qui (XJTAG website)

Sistema unificato di caratterizzazione per bitumi e asfalti basato basato su Ni Compact RIO e NI LabVIEW (Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi - soluzioni e applicazioni 2012)
Sistema integrato hardware e software per la caratterizzazione fisico-meccanica di bitumi e asfalti mediante prove di resistenza e di durata.

Sistema di misura di potenza ed energia di fasci laser basato su NI LabWindows/CVI 2009 (Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi - soluzioni e applicazioni 2011)
Software di gestione di un sistema di acquisizione e misura di potenza e di energia per fasci laser.

Sistema di caratterizzazione provini di terra mediante prove dinamiche e cicliche (LabVIEW World - numero 15/2010)
Anche LabVIEW World pubblica l'articolo che descrive il sistema di test automatico da noi sviluppato per la caratterizzazione di campioni di terreno gestito da un CompactRIO interamente controllabile mediante PC.

Sistema di caratterizzazione provini di terra mediante prove dinamiche e cicliche (Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi - soluzioni e applicazioni 2010) Sistema a tre anelli chiusi (PID) basato su architettura real-time che controlla carichi e pressioni in tempi brevi e certi, così da gestire le elevate forze in gioco. L’integrazione dei controlli real-time è stata fatta su hardware CompactRIO, lo sviluppo firmware (FPGA) e software (Real-time e PC) con LabVIEW.

National Instruments e l'embedded (Design-IN - numero 3/2009)
Con il modulo LabVIEW FPGA e i suoi dispositivi hardware RIO, l'azienda specializzata in strumenti di testing e misura ha iniziato a creare una piattaforma di sviluppo adatta anche all’embedded e alla programmazione FPGA.

Schede controllo motori passo-passo (Bollettino di aggiornamento Distrelec - numero 2/2004)
Distrelec presenta le sei schede di controllo assi con interfaccia USB, Ethernet e RS232.

Eventi

NI-Day 2013 (milano, 27 febbraio 2013): Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi. Anche quest'anno IPSES ha partecipato come espositore all'NIDAY2013 che si è tenuto presso MiCo-centro Milano Congressi il 27 febbraio. Scheda espositori

Focus embedded 2011: IPSES ha partecipato come espositore alla nona edizione della mostra convegno Focus Embedded che si è tenuta a Milano lo scorso15 novembre 2011. Esposizione dei prodotti e dei servizi embedded di IPSES. Partnership con Eurolab. Scheda espositore

DNA Italia 2011 (3-5 novembre 2011 -- Torino - Lingotto Fiere): Salone del Progetto, delle Tecnologie, del Marketing e della Comunicazione per la tutela e la valorizzazione del Patrimonio, l’occasione ideale per mettere a rete finanza, imprese, progettisti, istituzioni e associazioni che lavorano per la tutela, la valorizzazione e la messa a reddito del Patrimonio Culturale. IPSES, in partnership con TecnArt e il Dipartimento di Fisica dell'Univeristà di Torino ha partecipato come espositore a DNA Italia per presentare le proprie soluzione e laboratori per la datazione con termoluminescenza. Scheda espositore

NI-Day 2011 (milano, 23 febbraio 2011): presentazione dei nostri servizi di sviluppo software e hardware con tool National Instruments. Partnership con 6TL, di cui IPSES è la rappresentante ufficiale per l'Italia e la Svizzera, e presentazione dei servizi, sistemi e accessori per il testing.

Electronica 2010 (Monaco di Baviera, 9-12 novembre 2010): presentazione delle nostre nuove schede di I/O, presso lo stand della Microchip inc., che ha selezionato i nostri prodotti come tra i migliori sviluppati utilizzando i suoi microcontrollori.

NI-Day 2010 (Roma, 24 febbraio 2010): presentazione della nuova partnership con 6TL e dei relativi sistemi e accessori per il testing. www.6tl.ipses.com

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