Eventi e News

IPSES all'INDUSTRY SUMMIT 2018 DI NI

24/08/2018

Il prossimo 8 novembre 2018 partecipa all'Industry Summit di National Instrument a Milano, l'evento che riunisce esperti e ricercatori nei settori Aerospace, Defence, Transportation ed Embedded.

IPSES all'NIDAYS 2017

06/11/2017

Vieni a trovarci al nostro stand 14 novembre 2017 presso Atahotel Expo Fiera di Pero a Milano, l'evento di National Instruments dedicato alla progettazione grafica di sistemi.

Saremo presenti insieme al nostro partner Aviogelt anche come AEDI, la nostra partnership tecnologica che combina competenze ed expertise per offrire soluzioni di eccellenza in ambito aerospace & defence, transport ed energy.

IPSES e AVIOGELT all'NI Aerospace & Defense Forum

12/03/2017

Vieni a trovarci presso il nostro stand all'NI Aerospace & Defense Forum il prossimo 6 Aprile 2017 a Roma - Appia Park Hotel 

IPSES allo Smarter Testing di National Instruments

02/11/2016

Il prossimo 14 Marzo 2017 partecipa al seminario di National Instruments Smarter Testing e assisti alla sessione tecnica di IPSES sul test di Visione mediante la libreria ViTest. 

IPSES al AL LabVIEW Developers Days 2016 -Milano 27 ottobre 2016

17/10/2016

Assisti al nostro intervento su Gestione testing funzionale con comunicazione RF con LabVIEW e TestStand.

Per partecipare e registrarsi gratuitamente visita il sito di National Instruments

IPSES all'NI Automotive forum Torino, Museo dell'Automobile, 9 giugno 2016

16/05/2016

IPSES esporrà al prossimo NI Automotive forum, l’evento dedicato alle aziende e ai professionisti nel settore Automotive che si terrà a Torino, presso il museo dell'Automobile il 9 giugno. 

IPSES al SPS - Fiera Italiana dell'automazione

26/04/2016

Parma 24-26 Maggio 2016. Pad. 2 Stand E032

IPSES con National Insturments parteciperà all'SPS di Parma, la fiera italiana dedicata all'automazione.

WORKSHOP: IL TEST BOUNDARY SCAN INTEGRATO AL TEST FUNZIONALE

22/02/2016

Il prossimo 6 aprile 2016 IPSES, in collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, organizza un seminario pratico su test funzionale abbinato al boundary scan.  Il workshop, gratuito e a numero chiuso, permetterà di valutare come le due metodologie di testing possano essere combinate e integrate, migliorando la copertura e l'affidabilità del test di fine produzione rispetto a un approccio separato, riducendo tempi e costi.
Il workshop si terrà presso National Instruments -  Centro Direzionale di Milanofiori Nord - Assago- Milano

IPSES vince l'NI Engineering Impact Awards 2016

18/02/2016

L'applicazione di IPSES Sistema di test funzionale per schede elettroniche con display a cristalli liquidi basato sulle piattaforme NI PXI, LabVIEW e TestStand è l'applicazione dell'anno all'NI NI Engineering Impact Awards nella categoria Electronics e Semiconductor.

NI-Day 2016

08/11/2015

Milano,18 Febbraio 2016
Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi.

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