WORKSHOP: IL TEST BOUNDARY SCAN INTEGRATO AL TEST FUNZIONALE

Workshop: test boundary scan e test funzionale

Il prossimo 6 aprile 2016 IPSES, in collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, organizza un seminario pratico su test funzionale abbinato al boundary scan.  Il workshop, gratuito e a numero chiuso, permetterà di valutare come le due metodologie di testing possano essere combinate e integrate, migliorando la copertura e l'affidabilità del test di fine produzione rispetto a un approccio separato, riducendo tempi e costi.
Il workshop si terrà presso National Instruments -  Centro Direzionale di Milanofiori Nord - Assago- Milano

Un approccio nuovo: Test funzionale integrato + test Boundary Scan per una massima affidabilità ed efficacia

L’unione del test funzionale a quello Boundary Scan su un unico sistema porta a numerosi e notevoli benefici: non solo i due sono complementari e quindi la loro combinazione consente di coprire vicendevolmente le aree in cui sarebbero carenti, ma il loro uso integrato aumenta l’affidabilità e l’efficacia del test stesso che non sarà semplicemente la somma di quanto ottenibile singolarmente dai due, creando condizioni di test favorevoli che altrimenti sarebbe impossibile avere.

Un approccio integrato consente di ridurre notevolmente i costi, avere tempistiche di test inferiori e ottenere una diagnostica dei guasti migliore, più accurata e con reportistica unica.

Per maggiori informazioni e registrarsi all’evento scrivere a info@ipses.com

PROGRAMMA

Il corso sarà svolto in italiano e in inglese.

8.30   Registrazione e welcome coffee
9.00   Benvenuto
 Introduzione: Il test di end of line di schede elettroniche complesse. I vantaggi di un approccio integrato di test funzionale e test Boundary scan
9.30   Il test mediante boundary scan: introduzione allo standard IEEE 1149.x
10.00   Come comunicare e interagire con la catena JTAG. Il test di schede elettroniche mediante JTAG (sessione pratica)
11.30   Coffee break
11.45   Come gestire i dispositivi non-JTAG: lettura di valori ADC e impostazione tensioni su DAC (sessione pratica)
13.00   Pranzo
14.15   Le piattaforme National Instruments per il test funzionale
14.45   Come integrare i tool XJTAG nella piattaforma di National Instruments (sessione pratica)
15.45   coffe break
16.00   Come far interagire il test JTAG e il test funzionale reciprocamente: alcuni esempi pratici (sessione pratica)
17.00   Come integrare le sequenze di test XJTAG in NI TestSTAND (sessione pratica)

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