Sistemi integrati

Piattaforme e sequenze di test integrati funzionali e Boundary Scan: un approccio nuovo per una massima affidabilità ed efficacia.

Il testing integrato è l’ideale nel caso di schede elettroniche a media e alta densità, elevata complessità di componenti elettronici, alto numero di componenti digitali e difficoltà di accesso ai probe fisici.

In questo modo si riesce a verificare il corretto funzionamento della scheda dal punto di vista funzionale, la correttezza dei componenti e loro interconnessione e si possono testare sia parti digitali, sia parti analogiche.

Tramite piattaforme aperte, scalabili e riconfigurabili, sia hardware, sia software, si possono avere sistemi di test integrati in tempi rapidi e a costi competitivi, rispondendo alle necessità di mercato che spingono le aziende a rilasciare prodotti complessi in tempi sempre più ridotti.

TESTING FUNZIONALE E BOUNDARY SCAN INTEGRATI: VANTAGGI

Copertura vicendevole di aree in cui sarebbero carenti

  • Copertura quasi totale di tutti i circuiti del DUT sia digitali, sia analogici e di tutte le net

Aumento dell’affidabilità ed efficacia

  • Facendo interagire le due tecniche si possono creare condizioni di test favorevoli che altrimenti sarebbe impossibile avere

Elevate prestazioni di programmazione in-system

  • Gli algoritmi XJTAG permettono una semplice e veloce programmazione di una vasta gamma di dispostivi

Diagnostica dei guasti migliore

  • Unica reportistica integrata
Immagine testi

Pubblicazioni

Brochure Test Integrato Funzionale e Boundary

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IT - Automazione & Strumentazione - Maggio 2014 - Il test boundary scan abbinato al test funzionale

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