Eventi e News
IPSES al SPS - Fiera Italiana dell'automazione
26/04/2016Parma 24-26 Maggio 2016. Pad. 2 Stand E032
IPSES con National Insturments parteciperà all'SPS di Parma, la fiera italiana dedicata all'automazione.
WORKSHOP: IL TEST BOUNDARY SCAN INTEGRATO AL TEST FUNZIONALE
22/02/2016Il prossimo 6 aprile 2016 IPSES, in collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, organizza un seminario pratico su test funzionale abbinato al boundary scan. Il workshop, gratuito e a numero chiuso, permetterà di valutare come le due metodologie di testing possano essere combinate e integrate, migliorando la copertura e l'affidabilità del test di fine produzione rispetto a un approccio separato, riducendo tempi e costi.
Il workshop si terrà presso National Instruments - Centro Direzionale di Milanofiori Nord - Assago- Milano
IPSES vince l'NI Engineering Impact Awards 2016
18/02/2016L'applicazione di IPSES Sistema di test funzionale per schede elettroniche con display a cristalli liquidi basato sulle piattaforme NI PXI, LabVIEW e TestStand è l'applicazione dell'anno all'NI NI Engineering Impact Awards nella categoria Electronics e Semiconductor.
IPSES al LabVIEW Developer Days 2015
16/09/2015Sessione Tecnica di IPSES sul test di Visione al LabVIEW Developer Day, dedicato a programmatori e sviluppatori di LabVIEW - MILANO 20 Ottobre 2015
Workshop test funzionale abbinato a boundary scan
11/06/2015Milano, 18 giungo 2014
In collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, IPSES ha organizzato un workshop su test funzionale abbinato al test boundary scan.
